Veranstaltungen und Messen

Wir laden alle Interessierten herzlich zu unserem BarCamp zum Thema Edge AI und Smart Sensing ein. Organisiert wird die Veranstaltung von der Strategischen Partnerschaft Sensorik e.V., unterstützt vom Bayerischen Chip-Design-Center sowie der Strategischen Initiative Neuromorphes Computing des Fraunhofer IIS.

Ziel dieses Seminar ist es, grundlegende Methoden, Verfahren und Techniken aus den Bereichen Datenanalyse und Maschinelles Lernen zu vermitteln und anhand ausgewählter Beispiele aufzuzeigen, wie diese den Fahrzeugentwicklungsprozess verbessern können.

Neuheiten und innovative Lösungen für die Qualitätssicherung: Auf der Messe Control in Stuttgart präsentiert der Geschäftsbereich VISION mit jährlich wechselnden Schwerpunktthemen eine Auswahl neuer Bildverarbeitungs- und Vermessungssysteme für die Qualitätssicherung in der Produktion. Auf dem Messestand geben die beteiligten Institute einen Einblick in ihre Kompetenzen.

Nanotechnologie wird als Schlüsseltechnologie in vielen Bereichen genutzt: Bei dem 5. Symposium zur Nanotechnologie des Fraunhofer-Netzwerkes Nanotechnologie mit Unterstützung des Bundesinstitutes für Risikobewertung BfR stehen die Chancen und Risiken erneut im Fokus. Während der zweitägigen Online-Veranstaltung werden voraussichtlich Themen wie der Einsatz von Nanotechnologie in Verbindung mit Digitalisierung, 2D/3D-Druck, kohlenstoffbasierten Materialien und Batteriematerialien präsentiert.

Bei der Entwicklung mechanisch beanspruchter Systeme spielen die im Feld auftretenden dynamischen Lasten eine zentrale Rolle. Für eine Auslegung im Hinblick auf funktionale Eigenschaften wie Festigkeit und Schwingungsverhalten ist ein gutes Verständnis der Betriebslasten entscheidend. Dies beginnt mit der Messung von Betriebslasten unter repräsentativen Bedingungen. Durch eine statistische Beschreibung der Lasten wird die Streuung der Beanspruchung im Betrieb berücksichtigt. Mit Hilfe von Analyseverfahren im Zeit-, Frequenz- und Amplitudenbereich (z. B. Rainflow-Verfahren) werden reproduzierbare Bemessungs lasten definiert, die in einer quantifizierten Beziehung zur Beanspruchung im Feld stehen. Diese Bemessungslasten – in der Regel mehrdimensionale Last-Zeitverläufe – sind die Eingangsgrößen sowohl für Prüfstandsversuche als auch für CAE-Simulationen. Aufgabe der FE- und MKS-Analyse ist es, die Kraftflüsse von Systemlasten zu Lagern und Bauteilen bis hin zu örtlichen Spannungen in den Komponenten richtig abzubilden. Die heutige Simulationsmethodik und Rechnerleistung erlaubt dies auch für mehrdimensionale transiente Last-Zeitverläufe. So können funktionale Eigenschaften wie Schwingungskomfort und Betriebsfestigkeit analysiert und optimiert werden, bevor ein Prototyp zur Messung zur Verfügung steht. Ebenso helfen die CAE-Simulationen, Komponentenversuche optimal zu konfigurieren, Versuchszeiten zu verkürzen und Versuche zu vereinfachen.

The 6th International Symposium on Additive Manufacturing (ISAM 2025) will show how AM technology contributes significantly to increase industrial value today and in the future. The conference will clearly focus on the vibrant topics of our industries and scientific communities. Experts from all over the world will report on the latest developments, perspectives and applications of additive manufacturing. Digitalization and the use of artificial intelligence will help to further push the boundaries of AM processes.

Die VDE ITG Fachgruppe MN 5.6 lädt herzlich Experten sowie Newcomer auf dem Gebiet der Halbleiterzuverlässigkeit zur 17. VDE ITG MN 5.6 Fachtagung »f(ast)WLR, Wafer Level Reliability, Zuverlässigkeits-Simulation & Qualifikation« an das Fraunhofer IKTS in Dresden ein – dieses Jahr mit dem Fokusthema: »Chiplets & their usage in fWLR Methodology«.

Im Rahmen der Veranstaltungsreihe "MQV-Einblicke" des Forschungsnetzwerks Munich Quantum Valley geben Wissenschaftler:innen des Fraunhofer EMFT spannende Einblicke in die Forschungsarbeit im eiskalten Millikelvin-Bereich. Anschließend gibt es die Möglichkeit, das Kryolabor zu besichtigen, in dem sich der Kryostat befindet, mit dem die Wissenschaftler:innen die kalten Temperaturen erzeugen.

Um den Zuverlässigkeitsnachweis von Bauteilen statistisch korrekt zu führen sind besondere Methoden der Statistik gefragt. In einem zweitägigen Kompaktseminar vermitteln wir ihnen die notwendigen Kenntnisse, um Kernfragen souverän beantworten zu können.

Eröffnet wird die diesjährige MAROS-Konferenz mit der Keynote »Vom Wissen zum Wettbewerbsvorteil« von Frank Böttcher, Vorsitzender der Deutschen Meteorologischen Gesellschaft e.V. (DMG). In moderierten Podiumsrunden werden an zwei Tagen Aspekte von Kommunikation und Mee(h)r, Klimawandel und Resilienz, Häfen als Schnittstellen sowie Sensoren als Wissensbasis näher beleuchtet.